2017年11月に行われた IEEE International Test Conference において、
工学系研究科電気系工学専攻の、名倉徹 准教授、寺尾直樹さん(修士2年)、飯塚哲也 准教授、浅田邦博 教授らによるLSI テスト手法に関する発表が Best Paper Award を受賞しました。
Toru Nakura, Naoki Terao, Masahiro Ishida, Rimon Ikeno, Takashi Kusaka, Tetsuya Iizuka, Kunihiro Asada, "Power Supply Impedance Emulation to Eliminate Overkills and Underkills due to the Impedance Difference between ATE and Customer Board"
http://www.itctestweek.org/papers/best-paper-awards/
また、名倉徹 准教授、浅田邦博 教授らが JETTA/TTTC 論文誌において 2016 Best Paper Award を受賞しました。
Masahiro Ishida, Toru Nakura, Takashi Kusaka, Satoshi Komatsu, Kunihiro Asada,
"Dynamic Power Integrity Control of ATE for Eliminating Overkills and Underkills in Device Testing", Journal of Electronic Testing: Theory and Application (JETTA), Vol.32, Issue 3, pp.257-271, June 2016.