竹内研究室が開発した誤り訂正符号(ECC)技術が日経エレクトロニクスTech-Onに取り上げられました。「ReRAMバッファを備えるSSD向けのECC技術,東京大学が開発」
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2010.09.30

竹内研究室が開発した誤り訂正符号(ECC)技術が日経エレクトロニクスTech-Onに取り上げられました。「ReRAMバッファを備えるSSD向けのECC技術,東京大学が開発」

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