竹内研究室が開発した誤り訂正符号（ECC)技術が日経エレクトロニクスTech-Onに取り上げられました。「ReRAMバッファを備えるSSD向けのECC技術，東京大学が開発」

EEICとは教員・研究一覧ニュース

EEICを目指す方へ

お問い合わせアクセス

EEIS（大学院）はこちら

EEIC 東京大学工学部電子情報工学科・電気電子工学科

Department of Electrical and Electronic Engineering, Department of Information and Communication Engineering, The University of Tokyo

EEICとは教員・研究一覧ニュース

EEICを目指す方へ

お問い合わせアクセス

EEIS（大学院）はこちら

東京大学

ホームニュース

竹内研究室が開発した誤り訂正符号（ECC)技術が日経エレクトロニクスTech-Onに取り上げられました。「ReRAMバッファを備えるSSD向けのECC技術，東京大学が開発」

竹内研究室が開発した誤り訂正符号（ECC)技術が日経エレクトロニクスTech-Onに取り上げられました。「ReRAMバッファを備えるSSD向けのECC技術，東京大学が開発」

メディア掲載

2010.09.30

竹内研究室が開発した誤り訂正符号（ECC)技術が日経エレクトロニクスTech-Onに取り上げられました。「ReRAMバッファを備えるSSD向けのECC技術，東京大学が開発」

一覧に戻る

ページトップへ

Copyright © 2022 Department of Electrical and Electronic Engineering, Department of Information and Communication Engineering, The University of Tokyo